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JIS規格対応の非接触寸法測定(2019年2月先行予約、2019年4月発売)

 

 

JIS B7440-8という非接触測定に関する規格に対応した形状測定器です。

接触式に依存している寸法測定・座標測定と同様の測定が可能となります。

これによって、開発・試作や品質保証業務の高速化を実現、生産性を向上します。

 

動画で製品の概要をお伝えしております。

 

 

 

トレーサビリティ体系に基づいて検査された治具にて、出荷検査を行っております。

納品にあたっては、別途ユーザー様用のキャリブレーション治具と出荷検査証明書を添付いたします。

 

 

 

 

測定業務の高速化により、試作・開発の生産性が向上

 

例えば、試作・開発現場では、様々な測定ニーズが発生します。

現在、そのほとんどは接触式測定器で担われ、時間をかけて測定が行われています。

測定プロセスのリードタイムにより、試作・開発作業は長期化し

迅速に市場ニーズにこたえる上でのネックになっております。

 

 

非接触の規格測定を実現することで、この開発リードタイムを圧縮できます。

以下の図のように、測定を多頻度で繰り返しながら、

多くの測定データをもとに開発を進めることが可能になります。

 

 

 

 

非接触測定規格を取り巻く状況

現在、非接触測定に関する規格は、JISB7440-8が最新となります。

今後ISO10360-13の更新が行われる予定です。

光コム形状測定器は、非接触測定分野の発展のために、これら規格に漸次準拠してまいります。

 

 

 

 

先行発注、無料サンプル測定のご案内

JIS規格準拠の非接触測定器ですが、2019年2月から先行発注を受け付けます。

詳しくはお問合せください。

また、それに先立ち、無料サンプル測定をご希望の方は、こちらからお問合せください。

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